泰克推出完善的USB 3.1一致性测试解决方案

泰克推出完善的USB 3.1一致性测试解决方案

泰克公司日前推出一套完善的USB 3.1一致性测试解决方案,新方案扩展了泰克本已非常全面的USB 3.1和USB...


串行数据一致性测试和验证测量基础知识

串行总线正在持续发展,其提供了更快的边沿速率和更窄的单位间隔(UI),给设计、一致性测试和调试流程带来了独特的具体需求... [详细]

了解和检定定时抖动入门手册

定时抖动是采用电压转换表示定时信息的所有电子系统中不受欢迎的伴生物。从历史上看,通过采用相对较低的信令速率,电子系统已经减少了定时抖动( 或简称为“抖动”)的不利影响... [详细]

信号完整性基础

信号完整性基础

对于系统开发者而言,不断发展的技术,使得系统开发、生产和维护完整、无损害信号的数字系统越来越困难... [详细]

深入剖析眼图

本文介绍了什么是眼图,眼图是如何构建的,触发是生成眼图的一个共同方法... [详细]

时钟恢复对高速测试测量的影响

不管是放到测试设置中,还是作为被测设备的一部分,时钟恢复都在进行准确的测试测量中发挥着... [详细]

压力眼图入门手册

压力眼图入门手册

许多高速串行接口标准把一个标准测试称为“压力眼图“测试。本文主要介绍一些高速串行标准的压力眼图测试,以及如何进行接收机的压力... [详细]

DDR存储器电接口检验

DDR或双倍速率SDRAM已经成为当前首选的存储器技术,随着各个公司努力提高速度和容量,同时降低成本、耗能... [详细]

SDRAM内存系统入门手册

DRAM(动态随机访问存储器)对设计人员特别具有吸引力,因为它提供了广泛的性能,用于各种计算机和嵌入式系统的存储系统... [详细]

简化USB3.0设计的调试和验证

简化USB3.0设计的调试和验证

介绍通用串行总线(USB) 标准的演变,以及为适应这种流行的通信标准日益提高的速度和复杂性开发的各种测试方法... [详细]

使用泰克示波器可视触发功能调试内存接口

本文重点介绍怎样使用可视触发、PinpointTM 触发及高级搜索和标记功能设置触发,简便地捕获... [详细]

TDR_Impedance_Measurement

在计算机通信领域,信号完整性优先级越来越高,设计师们不断追求... [详细]

存储器测试解决方案

存储器测试解决方案

DDR SDRAM数据速率大约每三年翻一番,已经达到1.6GT/s。同时,能源消耗和电源电源也明显的下降了... [详细]

消除BER 与眼图之间的空白—BER 轮廓教程

本文介绍了BER 轮廓测量 - 什么是BER 轮廓、怎样构建BER 轮廓、其对观察千兆位速率的性... [详细]

MIPI M-PHY Physical and Protocol Layer Testing

M-PHY 是一种高速串行物理接口,由于其具有灵活的信号特点,M-PHY将用于移动设备的开发...[详细]

串行总线标准测试

本文介绍了串行总线标准测试实验过程和数据... [详细]

线上研讨会

新一代SATA/SAS(TX/RX) 面临的新测试挑战

新一代SATA/SAS(TX/RX) 面临的新测试挑战

新一代SATA/SAS(TX/RX) 面临的新测试,通过本视频,你可以更了解新产品的优势... [详细]

成功案例

泰克全新ESDEOS防护模块80A09 在PCB 制造企业的应用实例

泰克全新ESDEOS防护模块80A09 在PCB 制造企业的应用实例... [详细]


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